《表3 芯片失效区各元素组分Tab.3Element composition of sample's failure zone on cathode》

《表3 芯片失效区各元素组分Tab.3Element composition of sample's failure zone on cathode》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《GaN基白光LED可靠性研究与失效分析》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

而在负极边缘区域没有附着钝化层,容易发生腐蚀。反应中产生的氢离子会提高电极周围环境的酸性,加速腐蚀失效的进程。同时LED工作时负极较大的电流产生热量并不断累积,在高温与密闭的环境下加速了氯元素腐蚀作用的进行,同时气密性较差的器件会将水汽引入芯片,电应力和热应力作用下加快了反应粒子的运动速度,从根本上加速了反应进程,加剧了芯片负极的腐蚀和损坏。进而导致接触电阻变大,热膨胀系数变化,热量累积最终导致电路故障,LED灯具失效。可见,LED封装胶中的杂质氯离子会对器件的正常工作产生很大的影响,降低封装胶中氯离子的含量对控制电极的腐蚀,对于提高LED器件的品质具有重要的意义。