《表3 芯片失效区各元素组分Tab.3Element composition of sample's failure zone on cathode》
而在负极边缘区域没有附着钝化层,容易发生腐蚀。反应中产生的氢离子会提高电极周围环境的酸性,加速腐蚀失效的进程。同时LED工作时负极较大的电流产生热量并不断累积,在高温与密闭的环境下加速了氯元素腐蚀作用的进行,同时气密性较差的器件会将水汽引入芯片,电应力和热应力作用下加快了反应粒子的运动速度,从根本上加速了反应进程,加剧了芯片负极的腐蚀和损坏。进而导致接触电阻变大,热膨胀系数变化,热量累积最终导致电路故障,LED灯具失效。可见,LED封装胶中的杂质氯离子会对器件的正常工作产生很大的影响,降低封装胶中氯离子的含量对控制电极的腐蚀,对于提高LED器件的品质具有重要的意义。
图表编号 | XD0017638400 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.12.01 |
作者 | 宋嘉良、文尚胜、马丙戌、符民、胡捷频、彭星、方方、廖少雄、康丽娟 |
绘制单位 | 华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室、华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室、华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室、华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室、华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室、复旦大学上海超精密光学制造工程技术研究中心、广东金鉴检测科技有限公司、广州虎辉照明科技公司、华南师范大学美术学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
查看“表3 芯片失效区各元素组分Tab.3Element composition of sample's failure zone on cathode”的人还看了
- 表3 盲板密封失效及基本事件风险影响因素评分Table 3 Scores of risk influence factors of blind plate seal failure and basic events