《表1 图1a～f处的Zr、O含量及Zr/O原子比》

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《Sn对锆合金在280℃LiOH水溶液中初期腐蚀行为的影响》

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图1为1#合金大晶粒TEM薄样品短时腐蚀后的TEM像和SAED花样。图1a1～f1是沿着TEM薄样品孔洞直径方向由厚到薄每隔500 nm拍摄的SAED花样，并用EDS分析Zr和O的含量，计算Zr/O比，结果列于表1。图1a处的Zr/O原子比约为5.05，其对应的SAED花样在[11ˉ00]方向出现了晶面间距很大的衍射斑点，标定结果为hcp结构的α-Zr（图1a1）。图1b1～f1是与图1a1在同一个晶粒中拍摄的SAED花样，该拍摄区域内的厚度不断减薄，氧含量不断增加（表1），SAED花样也不断发生改变，说明晶体结构因氧含量的增加发生了变化。在图1c1和d1中，观察到无序-有序状态的转化，形成了亚氧化物hcp-Zr3O1-x，与α-Zr基体之间存在半共格关系；（13ˉ1）Zr3O1-x//（101ˉ1ˉ）α-Zr，[013]Zr3O1-x//[101ˉ1]α-Zr；而在图1f1中出现了ZrO2多晶环。这表明氧扩散进入α-Zr基体经历了形成调制（有序固溶）、无序-有序转化、亚氧化物和形成纳米晶ZrO2的过程。