《表2 Mo Cl5-[BMP]Tf2N体系中恒电位电沉积1 h沉积物的EDS分析Table 2 EDS analysis of deposition obtained by potentiostat

《表2 Mo Cl5-[BMP]Tf2N体系中恒电位电沉积1 h沉积物的EDS分析Table 2 EDS analysis of deposition obtained by potentiostat   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
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《钼在[BMP]Tf_2N离子液体中的低温电沉积》


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在TEM观察同时进行了EDS分析,结果如图7所示。可见沉积物主要是Mo,这也进一步证实TEM电镜观测的晶态物质为金属Mo。图谱中Cu和C元素来自使用的多孔微栅,少量的Pt元素存在是刮下镀层时基板粘附其上所致。极少的Cl元素来自Mo Cl5。