《表2 元器件的仿真温度:弹上用驱动器电路板热仿真分析及试验研究》

《表2 元器件的仿真温度:弹上用驱动器电路板热仿真分析及试验研究》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《弹上用驱动器电路板热仿真分析及试验研究》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

由仿真结果可以看出,随着仿真时间的增加,各元器件温度不断升高。不同元器件升温速率存在差异,这是由元器件间的功率、尺寸和相对位置的差异所导致[10]。其中绕线电阻Rc的在初始阶段升温最快,仿真时间200s时的温度也显著高于其他元器件。结合温度变化曲线,分别获取200s内各元器件最高温度值,并与元器件温度允许范围对比,如表2所示。可以看出,各元器件的最大温度都在允许的温度范围内。