《表3 封孔前后涂层截面EDS数据》
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为了防止封孔层在磨拋过程中被破坏,对样品进行镶嵌处理。封孔前后涂层截面的SEM照片如图5所示。可以发现,封孔后,涂层上表面明显存在一层覆盖层,即封孔层。通过测量发现,封孔层厚度在10μm左右,但图5b显示封孔层较薄,这主要是因为在磨拋过程中,试样受力不均匀,使得边缘塌陷。为了了解封孔剂的渗透性,选择其中两组封孔后的涂层截面进行EDS分析,结果见表3。在位置1和6处为封孔层,其EDS结果中含有大量的Si和O,这与封孔剂的成分SiO2和硅氧烷的元素一致,但并未检测到Al的存在,这可能是由于铝硅复合溶胶中Al的含量较少导致的。位置2处除了含有涂层元素之外,还含有少量的Si和Cu,这主要是试样在磨拋过程中,封孔剂的颗粒和基体的Cu粘附所致。图5d、e中所取的其余各点均为涂层孔隙位置,位置4、7和8离喷涂层表面较近,Si的质量分数在20%左右,说明封孔剂已经可以很好地渗透到涂层孔隙中。当离喷涂层表面越来越远时,如位置3和9处,此时Si的质量分数已经减少到2%左右,这说明封孔剂往下渗透已经越来越困难,只有很少一部分封孔剂可以到达此深度。在5号位置可以发现所含元素为喷涂层元素,已不含封孔剂的元素成分,说明封孔剂已经完全渗透不到这种深度。综上所述,本实验封孔剂可以渗透到涂层以下10μm左右,完全可以起到填充涂层孔隙而封孔的效果。
图表编号 | XD00100145000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.10.20 |
作者 | 王学生、刘侠、包全合、张世宏 |
绘制单位 | 安徽工业大学现代表界面工程研究中心、安徽工业大学材料科学与工程学院、安徽工业大学现代表界面工程研究中心、安徽工业大学材料科学与工程学院、安徽工业大学现代表界面工程研究中心、安徽工业大学材料科学与工程学院 |
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