《国外测试新技术 晶体中缺陷的X射线貌相术观察》求取 ⇩
| 作者 | 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译 编者 |
|---|---|
| 出版 | 上海科学技术情报研究所 |
| 参考页数 | 191 ✅ 真实服务 非骗流量 ❤️ |
| 出版时间 | 1974（求助前请核对） 目录预览 |
| ISBN号 | 无 — 违规投诉 / 求助条款 |
| PDF编号 | 89275018（学习资料 勿作它用） |
| 求助格式 | 扫描PDF（若分多册发行，每次仅能受理1册） |
目录1
前言1
X射线貌相术在半导体晶体和器件研究上的应用4
使用由弯曲晶体造成单色发散线束的X射线衍射貌相术的新方法57
利用平行X射线束改善晶体莫尔条纹的可见度63
扫描X射线貌相术的反馈控制方案71
Lang貌相术的电-机械反馈控制78
X射线像的电视显示 I.X射线貌相图80
无位错硅中的空位团94
半导体器件工艺中的硅材料问题97
用X射线貌相术作工艺进程中硅内结构缺陷的测量123
磷进入硅中的反常扩散135
外延生长GaAs中的位错和界面上的面缺陷144
外延磁泡畴柘榴石的X射线双晶貌相术151
X射线貌相术在研究磁畴中的应用158
铌酸锂单晶的X射线貌相研究169
铝中位错的形成和运动的X射线貌相术研究177
人造石英中位错的X射线貌相研究182
1974《国外测试新技术 晶体中缺陷的X射线貌相术观察》由于是年代较久的资料都绝版了，几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要，可向博主求助其电子版PDF文件（由中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译 1974 上海科学技术情报研究所 出版的版本） 。对合法合规的求助，我会当即受理并将下载地址发送给你。
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