《X射线衍射实验技术》
作者 | 何崇智等编著 编者 |
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出版 | 上海:上海科学技术出版社 |
参考页数 | 438 |
出版时间 | 1988(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 7532306437 — 求助条款 |
PDF编号 | 87469628(仅供预览,未存储实际文件) |
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第一章 X射线物理学概要1
1 X射线的产生及其本性1
2 X射线谱3
3 X射线与物质交互作用的基本现象7
4 X射线的探测和防护11
第二章 晶体学与倒易点阵13
1 点阵13
2 点阵方向及点阵平面14
3 对称16
4 点群17
5 晶系18
6 布拉菲点阵(平移群)19
7 空间群22
8 倒易点阵24
第三章 X射线衍射原理28
1 衍射的基本方程与瓦尔德图解法28
2 X射线的衍射方法31
3 结构因子与点阵消光法则32
4 完整小晶体的衍射强度和干涉函数37
5 多晶体衍射强度39
第四章 多晶体粉末照相45
1 德拜照相成相原理45
2 德拜相机46
3 试样制备与调整47
4 底片安装方式48
5 辐射及滤波片的选择49
6 曝光时间51
7 衍射线位置的测量52
8 衍射花样的晶面指数标定52
9 聚焦相机58
参考文献69
第五章 X射线衍射仪71
1 引言71
2 X射线光源73
3 X射线测角仪78
4 探测与记录系统94
5 微型电子计算机对衍射仪的运控、测量和数据处理101
6 衍射仪主要技术指标与验收104
7 实验与测量方法108
参考文献116
第六章 多晶体X射线相分析118
1 引言118
2 JCPDS粉末衍射卡片及索引119
3 X射线衍射相分析方法123
4 电子计算机自动检索方法128
5 多晶体相分析中存在的一些问题132
6 单颗微粒的X射线相分析135
参考文献139
第七章 X射线衍射定量相分析140
1 引言140
2 定量相分析的基本原理141
3 外标法142
4 内标法143
5 基体冲洗法及绝热法145
6 联立方程法150
7 直接比较法152
8 应注意的几个问题158
参考文献159
第八章 点阵参数的精确测定161
1 一般考虑162
2 德拜-谢乐照相法164
3 用衍射仪法测定点阵参数171
4 点阵参数测定的实际应用176
参考文献179
第九章 单晶取向的测定181
1 极射赤面投影和心射切面投影181
2 晶体坐标网184
3 劳厄照相法195
4 衍射仪法212
参考文献213
第十章 金属材料织构的测定214
1 引言214
2 织构的类型及其描述方法216
3 轴向对称织构的测定221
4 板材织构(极图)的测定226
5 反极图的测定241
6 织构分析的取向分布函数法245
7 结束语257
参考文献258
第十一章 面心立方金属与合金的堆垛层错能测定259
1 引言259
2 层错能测量的X射线线形分析方法260
3 两个重要的经验关系式262
4 面心立方金属和合金堆垛层错能的测定--X射线织构法264
参考文献272
第十二章 有序无序转变274
1 长程有序度的定义274
2 有序化的X射线衍射效应275
3 形成超点阵线的物理原因276
4 实验及计算278
5 近程有序度的测定279
参考文献282
第十三章 显微畸变和嵌镶碎化尺寸的X射线分析283
1 近似函数图解法284
2 瓦伦-艾弗巴赫傅氏分析法329
3 方差分析法348
附录350
参考文献361
第十四章 宏观残余应力测定363
1 引言363
2 宏观残余应力的测量原理和方法364
3 应力常数的确定及定峰方法370
4 X射线应力分析仪器376
5 样品状态对应力测定的影响380
6 侧倾法382
7 应力测定中的一些问题388
参考文献390
第十五章 调幅结构的X射线分析392
1 不完整晶体X射线衍射强度的普遍公式393
2 调幅结构的衍射图象及形成原理399
3 实验技术405
4 应用实例406
参考文献409
附录411
1.元素的特征谱及吸收限波长×10(?)411
2.质量吸收系数μι/ρ及密度ρ413
3.原子散射因子f415
4.△f′к数值418
5.△f″к数值420
6.元素原子的散射能参数δк420
7.德拜函数Φ(x)数值421
8.德拜函数?+?数值421
9.德拜-瓦伦温度因子е-Bsln?/λ3=e-M422
10.立方晶系晶面(或晶向)间夹角424
11.六角晶系晶面间夹角(°)431
12.透射法在不同ɑ°、2θ°和e-μt条件下的强度校正因子?×100432
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