《X射线衍射技术 多晶体和非晶质材料》求取 ⇩

第一章晶体学基础 （柳得橹译）1

1—1 结晶态1

1—2 几何晶体学3

1—3 空间点阵17

1—4 点群和空间群26

一般参考文献35

专门参考文献35

第二章X射线的产生及其性质 （盛世雄译）37

2—1 X射线的安全防护37

2—2 X射线的产生38

2—3 X射线的性质及其测量50

一般参考文献71

专门参考文献72

第三章X射线衍射的基本原理 （谭秉和译）75

3—1 运动学和动力学衍射理论75

3—2 衍射几何75

3—3 衍射强度85

一般参考文献108

专门参考文献109

第四章粉末照相技术 （李华瑞译）112

4—1 德拜－谢乐法113

4—2 仲聚焦法141

4—3 单色化－针孔法147

4—4 微型相机和微射线束技术153

4—5 高温技术156

4—6 低温技术161

4—7 高压技术164

一般参考文献169

专门参考文献169

第五章粉末衍射仪技术 （谢逸凡译）174

5—1 粉末衍射仪的几何关系174

5—2 衍射极大的线形和位置184

5—3 衍射仪的电路特点197

5—4 实验条件和步骤的选择228

一般参考文献261

专门参考文献261

第六章粉末衍射数据的诠释 （赵伯麟译）263

6—1 粉末相底片的观测和精确测量263

6—2 晶面间距d的测量271

6—3 立方系粉末衍射花样的标定278

6—4 点阵类型的测定283

6—5 非立方系粉末衍射花样的标定284

6—6 标定粉末衍射花样的自动化计算程序296

6—7 照相底片的强度测量300

6—8 使用X射线衍射仪的强度测量308

6—9 强度的绝对单位换算310

6—10 特殊的散射及衍射效应310

一般参考文献317

专门参考文献317

第七章晶质粉末的定性和定量分析 （陈训平译）321

7—1 晶质粉末的常规定性分析321

7—2 粉末混合物的定量分析337

一般参考文献357

专门参考文献357

8—1 一般的讨论360

第八章点阵常数的精确测定 （盛世雄译）360

8—2 在德拜－谢乐法中系统误差的来源362

8—3 在德拜—谢乐法中校正误差的方法370

8—4 精确测定点阵常数的其他照相方法385

8—5 用衍射仪法精确测定点阵常数386

8—6 非立方系物质点阵常数的精确测定388

8—7 总结390

一般参考文献392

专门参考文献392

第九章晶粒大小和点阵畸变引起的谱线增宽 （蒋伯林译）395

9—1 纯线形的测定395

9—2 晶粒尺寸和点阵缺陷的同时测定411

9—3 晶粒尺寸的测定（无点阵不完整性）442

一般参考文献453

专门参考文献454

第十章织构和择优取向的研究 （吕荣邦译）458

10—1 材料的取向和织构458

10—2 纤维花样几何460

10—3 纤维花样的制备464

10—4 简单纤维花样分析466

10—5 择优取向的表示法468

10—6 极图的绘制471

10—7 其他483

一般参考文献484

专门参考文献484

第十一章金属材料中应力的测量 （盛世雄译）487

11—1 衍射方法的优缺点487

11—2 弹性应力应变关系488

11—3 表面上主应力之和490

11—4 表面上任意方向的应力分量492

11—5 塑性变形引起的问题509

一般参考文献510

专门参考文献511

第十二章非晶态材料的原子径向分布研究 （赵伯麟译）513

12—1 理论514

12—2 实验要求516

12—3 实测强度的校正和定标到绝对（电子）单位517

12—4 μT、i（S）和定标因数K的统一测定521

12—5 实验步骤示例522

12—6 误差来源528

12—7 将误差减至极小的具体办法532

12—8 实例538

12—9 对实验技术的进一步评论549

12—10 聚合物中有序度的表征550

一般参考文献552

专门参考文献552

附录Ⅰ X射线衍射实验室的设计 （李华瑞译）555

附录Ⅱ X射线胶片的管理和处理方法 （李华瑞译）558

附录Ⅲ 其他各种常数和数值数据 （盛世雄译）561

附录Ⅳ 国际原子量表——1969 （盛世雄译）562

附录Ⅴ 在选定波长下，元素（Z=1～83）的质量吸收系数μ/ρ （盛世雄译）564

附录Ⅵ 立方晶系的二次式 （盛世雄译）567

附录Ⅶ 原子和离子散射因数 （盛世雄译）569

附录Ⅷ 罗伦兹因数和偏振因数 （盛世雄译）576

附录Ⅸ 德拜－瓦洛温度因数e-(Bsin2θ)/λ2 （盛世雄译）579

附录X 瓦伦的粉末花样衍射本领理论 （李华瑞译）580