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第一篇质谱学基本理论1

第一章 绪论1

1-1 同位素与原子质量1

1-2 离子光学与几何光学的类似性2

1-3 质谱技术的发展4

1-4 质谱及其标度8

1-5 质谱仪器的组成和分类11

1-6 质谱仪器的分析系统12

1-7 质谱仪器的电学系统14

1-8 离子电流监测系统21

1-9 质谱仪器的真空系统23

1-10 质谱仪器的主要性能参数30

1-11 质谱分析的特点与应用41

参考文献47

第二章 离子源49

2-1 对离子源的要求49

2-2 固体分析离子源的类型及特性50

2-3 直接加热法51

2-5 聚焦射线法55

2-4 电子轰击法55

2-6 离子轰击法58

2-7 真空放电法69

2-8 真空放电的物理过程79

2-9 射频火花中离子形成过程84

2-10 真空放电离子源的结构86

参考文献89

3-1 离子在纵向静电场中的运动91

第三章 离子光学原理91

3-2 离子在横向静电场中的运动94

3-3 离子在轴对称静电场中的运动95

3-4 电透镜99

3-5 离子在均匀磁场中的运动106

3-6 扇形磁场的特性113

3-7 扇形柱面静电场128

3-8 环形和球面静电场136

3-9 双聚焦的基本原理和条件139

3-10 单质量一级双聚焦140

3-11 全质量一级双聚焦145

3-12 二级双聚焦151

3-13 β象差154

3-14 边缘磁场的轴向聚焦155

3-15 四极质谱计157

参考文献160

4-2 感板的结构、类型和物理特性162

4-1 引言162

第四章 离子照相测量与离子感板特性162

4-3 潜象形成的过程165

4-4 显象原理和方法169

4-5 谱线变黑度的测量173

4-6 互易律的有效性175

4-7 乳剂灵敏度及其影响因素175

4-8 乳剂特性函数179

4-9 背景及其扣除189

4-10 谱线宽度的测量193

4-11 谱线离子强度的测定195

4-12 感板的贮存、使用和处理196

参考文献200

第五章 离子的电学测量201

5-1 概述201

5-2 离子接收器204

5-3 检测放大器209

参考文献216

6-1 火花离子源质谱仪217

6-2 离子束切割装置217

第二篇火花质谱法217

第六章 火花质谱分析的仪器设备217

6-3 火花自动控制系统226

6-4 火花质谱电测系统231

参考文献244

第七章 质谱的解析和定性分析245

7-1 前言245

7-2 质谱的组成245

7-3 质谱的标定250

7-4 分辨多重线需要的分辨率253

7-5 定性分析255

参考文献258

第八章 火花质谱定量分析259

8-1 元素的相对灵敏度259

8-2 标准样品和内标263

8-3 定量分析265

8-4 质谱定量分析的误差271

8-5 探测限278

8-6 电测法定量分析281

8-7 自动数据处理285

8-8同位素稀释法291

参考文献294

第九章 固态样品的整体分析295

9-1 导体和半导体分析295

9-2 粉末样品的分析297

9-3 小样品分析302

9-4 化学法制备样品304

9-5 固体内气体元素的分析305

9-6 绝缘材料的分析308

9-7 低熔点样品的分析311

9-8 生物和有机样品的分析315

9-9 放射性金属的分析316

参考文献318

10-1 引言319

10-2 蒸干法319

第十章 液体样品的分析319

10-3 电镀法322

10-4 粉末吸附法323

10-5 冷冻法324

参考文献326

第十一章 火花探针表面分析327

11-1 引言327

11-2 火花放电时电极材料的蒸发327

11-3 微区分析329

11-4 表层与薄膜分析330

11-5 逐层分析333

参考文献335

第三篇二次离子质谱法337

第十二章 离子的溅射337

12-1 轰击离子对固体的作用337

12-2 溅射产率和溅射速度338

12-3 选择溅射效应341

12-4 二次离子的发射机构342

12-5 二次离子产率344

12-6 不同物质的二次离子发射345

12-7 二次离子的能量分布和角分布346

12-8 氧气氛对二次离子质谱分析的影响348

参考文献350

第十三章 二次离子质谱分析的仪器设备351

13-1 概述351

13-2 直接成象型离子探针356

13-3 扫描成象型离子探针364

13-4 大束离子探针373

13-5 电子喷射装置375

参考文献377

第十四章 二次离子质谱定量分析378

14-1 引言378

14-2 离子探针分析的实验操作378

14-3 离子的选择379

14-4 二次离子质谱的组成383

14-5 标样校正法384

14-6 热力学法386

参考文献394

第十五章 二次离子质谱法的应用395

15-1 引言395

15-2 整体分析395

15-3 表面分析400

15-4 纵深分析408

15-5 立体分析418

15-6 特殊分析419

参考文献424

附录426

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