《数字系统的故障诊断与可靠性设计》求取 ⇩

目录1

第一章 绪论1

1.1 发展概况1

1.2 故障和故障模型6

1.3 自动测试和故障诊断与检测13

1.4 有关异或运算的一些问题15

参考文献18

第二章 组合逻辑电路的测试19

2.1 伪穷举法19

2.2 布尔差分法28

2.3 D算法39

2.4 特征分析法58

2.5 因果函数分析法74

2.6 其它测试方法介绍79

2.7 故障的合并和压缩91

2.8 测试矢量集的极小化94

本章小结102

参考文献103

第三章 时序电路的测试105

3.1 同步时序电路测试105

3.2 九值算法及其改进110

3.3 M0 M1算法121

3.4 H算法131

3.5 异步时序电路的其它测试方法介绍141

3.6 时序电路的功能测试149

本章小结154

参考文献155

第四章 故障仿真156

4.1 并行故障仿真157

4.2 演绎故障仿真159

4.3 并发性故障仿真167

4.4 硬件仿真器169

本章小结172

参考文献173

第五章 可测性设计174

5.1 可测性设计的意义和发展情况174

5.2 可测性度量176

5.3 改善组合电路可测性的一般方法193

5.4 扫描电路设计207

5.5 内测试213

5.6 可测性设计的一般性措施219

5.7 PLA的故障检测与可测性设计225

本章小结245

参考文献246

第六章 可靠性设计248

6.1 可靠性的基本概念248

6.2 故障容错技术253

6.3 编码检错技术265

6.4 软件容错技术275

6.5 自检测试设计279

6.6 事故安全设计303

本章小结308

参考文献309

习题311

部分习题答案或提示321

附录329