《容错与故障可测性系统设计》求取 ⇩

1 可靠性的基本概念1

1.1　可靠性的定义1

1.2　可靠度和故障率1

1.3　可靠度与平均故障间隔时间的关系4

1.4　可维修度6

1.5　有效度7

1.6　串联系统与并联系统8

1.7　参考文献11

2 数字电路的故障12

2.1　失效与故障12

2.2　故障模型12

2.3　暂时性故障21

2.4　参考文献25

3 测试生成27

3.1　数字系统的故障诊断27

3.2　组合逻辑电路的测试生成28

3.3　组合电路中的多故障检测53

3.4　时序电路的测试生成55

3.5　随机测试68

3.6　跳变计数测试69

3.7 特征码分析77

3.8 参考文献77

4 数字系统的容错设计79

4.1 容错的重要性79

4.2 容错的基本概念80

4.3 静态冗余81

4.4 动态冗余89

4.5 混合冗余92

4.6 自清除冗余方式97

4.7 筛模冗余100

4.8 5MR重构方案102

4.9 利用纠错码进行存储系统的容错设计107

4.10 时间冗余121

4.11 软件冗余122

4.12 软失效运行124

4.13 实用的容错系统124

4.14 针对VLSI芯片的一种容错设计方案151

4.15 参考文献158

5 自校验与故障安全逻辑162

5.1 引言162

5.2 完全自校验检测器的设计164

5.3 自校验时序机205

5.4 部分自校验电路213

5.5 强故障安全电路215

5.6 失效保险设计216

5.7 完全自校验PLA设计228

5.8 参考文献234

6 可测性设计237

6.1 何谓可测性237

6.2 可控性和可观察性238

6.3 组合逻辑电路的可测性设计239

6.4 时序电路的可测性设计253

6.5 时序电路可测性设计中的路径扫描技术256

6.6 电平灵敏扫描设计（LSSD）261

6.7 随机存取扫描法270

6.8 内测试274

6.9 自治自测试设计280

6.10 逻辑板内的可测性设计287

6.11 参考文献294

7 结论297

7.1 参考文献304

附录 马尔可夫模型307