《数字系统的测试与容错 P233》求取 ⇩
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第一章 测试与容错的基本知识1
§1-1 诊断与容错技术的产生及发展1
§1-2 测试技术概述2
一、测试的一般模型2
二、故障与故障模型3
三、故障的检测与诊断6
四、测试费用分析6
§1-3 容错技术概述8
一、可靠性概念8
二、基本容错技术9
三、容错技术在高可靠系统设计中的应用9
参考文献10
习题11
第二章 组合电路测试13
§2-1 组合逻辑电路简介13
§2-2 跟踪敏化通路的测试生成方法13
一、单通路敏化法14
二、D算法15
三、九值算法22
四、PODEM算法24
五、FAN算法30
六、临界通路法35
§2-3 产生测试的代数方法36
一、布尔差分法36
二、主路径敏化法40
一、波格(paoge)法43
§2-4 跟踪信号通路的测试生成方法43
二、全通路图法45
§2-5 故障的精简46
一、用故障的等价性进行故障归类46
二、用故障之间的强于关系精简故障47
三、校验点47
§2-6 故障模拟48
一、故障模拟的作用48
二、模拟程序49
三、并行故障模拟52
四、同时故障模拟52
五、替代故障模拟的方法54
六、故障模拟用于随机测试生成55
§2-7 故障字典56
一、故障诊断集56
二、故障字典56
§2-8 测试响应的压缩58
一、转移计数测试59
二、特征分析技术59
参考文献62
习题63
第三章 时序电路测试65
§3-1 时序电路简介65
§3-2 时序电路测试中的问题66
一、初始化问题66
三、冒险的影响67
二、振荡问题67
§3-3 同步时序电路的测试生成法68
一、组合化模型68
二、用D算法求测试之例68
三、D算法的扩展69
§3-4 异步时序电路的测试生成法71
一、组合化模型71
二、反馈线的识别72
三、测试生成之例74
§3-5 自动机的识别法75
一、同步序列75
二、区分序列76
四、核实序列77
三、引导序列77
参考文献78
习题79
第四章 部件测试80
§4-1 功能测试概述80
§4-2 模块级的功能测试81
一、基本功能块的测试81
二、故障影响的传播与线确认82
三、功能测试的代数方法83
§4-3 重复逻辑阵列的测试84
一、一维重复逻辑阵列的测试85
二、树型结构的测试89
二、RAM的功能测试方法90
一、RAM的功能故障模型90
§4-4 随机访问存储器(RAM)的功能测试90
§4-5 微处理器的功能测试92
一、抽象执行图的方法93
二、系统图的方法98
参考文献103
习题104
第五章 可测试性设计106
§5-1 可测试性分析106
一、可测试性分析的意义106
二、可测试性测度的定义106
三、可测试性测度的计算107
四、一种更精确的可测试性测度110
一、特定的方法111
§5-2 易测试设计方法111
二、结构设计的方法112
§5-8 自测试121
一、微处理器自激励测试121
二、BILBO结构121
三、内部验证测试123
四、外加奇存器自测试126
参考文献126
习题127
第六章 系统级诊断129
§6-1 基本概念129
一、计算机系统的自诊断129
二、基本定义131
§6-2 PMC模型的一步系统诊断131
一、可诊断性的特征132
二、诊断算法134
三、最佳设计136
§6-3 系统诊断的发展137
一、诊断目标的发展137
二、模型的发展139
三、状态值的发展141
四、诊断方法的发展142
五、各种发展的综合模型143
§6-4 系统诊断的应用143
一、模拟电路的诊断143
二、容错计算146
三、社会诊断146
参考文献147
习题149
第七章 差错控制码151
§7-1 引言151
一、差错控利码的概念151
二、差错模型152
三、译码原则152
四、差错控制的策略153
§7-2 代数基础153
一、群153
二、有限域154
三、多项式154
四、有限域的表示156
一、基本定义158
§7-3 奇偶校验码158
五、向量空间158
二、检单错奇偶校验码162
三、海明码162
四、SEC/DED码164
五、乘积码164
六、b邻接码166
§7-4 循环码167
一、循环码的结构168
二、循环码的编码和译码170
三、截短码172
四、BCH码172
§7-5 算术码175
一、算术差错模型175
二、算术码及其分类176
§7-6 其它码177
一、校验和码177
二、m出自n码178
参考文献179
习题179
第八章 容错技术182
§8-1 故障检测技术182
一、基本定义182
二、完全自校验电路184
三、完全自校验网络185
四、部分自校验电路及网络188
五、其它检测技术189
一、自校正逻辑190
§8-2 故障屏蔽技术190
二、N倍冗余(NMR)系统191
三、门级屏蔽逻辑194
四、线路级的屏蔽逻辑197
§8-3 混合冗余技术198
一、可重组的二倍冗余199
二、NMR后援技术199
三、NMR自适应表决技术200
四、NMR比较技术201
五、恢复技术203
参考文献204
习题205
一、定数参数206
二、概率函数参数206
§9-1 可靠性参数206
第九章 系统可靠性评价技术206
三、投影参数207
四、比较参数208
§9-2 组合模型209
一、串/并联系统209
二、NMR表决系统209
三、NMR后援系统210
§9-3 网络模型211
一、方块图211
二、系统的方块图212
三、系统的可靠性213
一、状态图214
§9-4 马尔柯夫模型214
二、状态方程215
三、状态方程的求解216
四、状态图的简化217
五、典型系统的可靠性计算218
参考文献221
习题221
第十章 容错系统设计223
§10-1 设计方法论223
一、确立系统的可靠性目标223
二、设计故障处理机构223
§10-2 SIFT计算机设计225
一、可靠性目标225
三、系统评价225
二、系统设计226
三、可靠性评价228
§10-3 Intel 432系统设计228
一、设计目标228
二、系统设计228
三、系统评价230
§10-4 Stratus系统设计230
一、设计目标230
二、系统设计230
小结231
参考文献232
习题232
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高度相关资料
- 容易认错写错的字
- 1962 上海:上海教育出版社
- 容错与故障可测性系统设计
- 1989.03 中国铁道出版社
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- 1989 北京:海洋出版社
- 容错与故障可测性系统设计
- 1989 北京:中国铁道出版社
- 数字系统的诊断与容错
- 1981 北京:国防工业出版社
- 光纤数字通信系统及测试
- 1998 北京:中国铁道出版社
- 容易读错的字
- 1972 北京:北京人民出版社
- 容易写错的字
- 1964 北京:北京出版社
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- 1964 北京:北京出版社
- 数字计算机错误检测系统设计
- 1980 北京:国防工业出版社
- 数字系统测试与可测性
- 1992 长沙:国防科技大学出版社
- 数字系统测试及可测试性设计
- 1997 北京:科学出版社
- 数字传输系统测试
- 1993 北京:人民邮电出版社
- 光同步数字传输系统测试
- 1998 北京:人民邮电出版社
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