《数字电路故障诊断》求取 ⇩

第一单元引论1

一、故障分类2

二、常见的逻辑故障3

三、故障检测与故障定位8

四、测试数字电路的方法12

参考文献15

思考题与习题16

第二单元组合电路测试生成（一）19

一、布尔差分法20

二、通路敏化法23

三、D－算法26

四、D－算法的改进36

参考文献38

思考题与习题39

第三单元组合电路测试生成（二）41

一、隐式穷举过程41

二、初始目标确定和反推45

三、PODEM的执行过程46

四、加速PODEM计算过程的方法51

参考文献55

思考题与习题56

第四单元故障模拟和随机测试生成57

一、逻辑模拟的基本概念58

二、故障模拟59

三、随机测试生成72

参考文献74

思考题与习题75

第五单元伪穷举测试技术76

一、验证测试法76

二、全相关电路的伪穷举测试84

参考文献89

思考题与习题89

第六单元同步时序电路的故障检测试验91

一、基本概念92

二、后继树94

三、用预定测试法进行故障检测试验99

参考文献102

思考题与习题103

第七单元输出响应的分析方法105

一、转换次数法106

二、特征分析法108

三、加1计数法115

参考文献117

思考题与习题118

一、可控制性与可观察性119

第八单元可测试设计基础119

二、改善电路的可测试性的方法122

参考文献129

思考题与习题130

第九单元组合电路的可测试设计131

一、Reed-Muller标准电路131

二、校验子可测试电路134

参考文献141

思考题与习题142

第十单元可测试时序电路的设计143

一、易测试时序电路的设计143

二、区分序列长度为1的时序电路设计148

三、扫描设计技术150

四、移位寄存器用锁存器（SRL）156

五、电平相关扫描电路160

六、单锁存器电平相关扫描电路163

七、电平相关扫描设计LSSD165

八、随机访问扫描技术167

参考文献171

思考题与习题173

第十一单元PLA测试与可测试设计175

一、PLA中的故障176

二、故障模型和测试生成原理180

三、PLA的可测试设计187

参考文献192

思考题与习题194

第十二单元CMOS电路的故障检测和可测试设计195

一、CMOS与非门的测试195

二、二级与非电路的S-OP故障检测198

三、时间偏移和可测试设计202

参考文献205

思考题与习题207

一、RAM的结构及故障模型209

第十三单元RAM的功能测试与可测试设计209

二、测试序列及其复杂性213

三、可测试的RAM215

参考文献220

思考题与习题221

第十四单元内自测试设计223

一、测试信号产生器和输出响应分析器224

二、内自测试电路的结构228

三、PLA的内自测试235

四、内自测试的RAM239

参考文献244

思考题与习题246