《表面分析技术》
| 作者 | 陆家和，陈长彦等编著 编者 |
|---|---|
| 出版 | 北京：电子工业出版社 |
| 参考页数 | 486 |
| 出版时间 | 1987（求助前请核对） 目录预览 |
| ISBN号 | 15290·468 — 求助条款 |
| PDF编号 | 87067628（仅供预览，未存储实际文件） |
| 求助格式 | 扫描PDF（若分多册发行，每次仅能受理1册） |
第一章 绪论1
第二章 晶体结构和X射线衍射原理15
第三章 低能电子衍射（LEED）和反射式高能电子衍射（RHEED）27
第四章 场电子显微镜（FEM）和场离子显微镜（FIM）84
第五章 能量分析器132
第六章 俄歇电子能谱（AES）174
第七章 X射线光电子谱（XPS）213
第八章 紫外光电子谱（UPS）258
第九章 离子散射谱（ISS）296
第十章 次级离子质谱（SIMS）320
第十一章 离子中和谱与脱附谱376
第十二章 电子能量损失谱419
附录Ⅰ锁定放大器465
附录Ⅱ用脉冲计数方法测量微弱电流480
附录Ⅲ常用表面分析方法英文全名486
1987《表面分析技术》由于是年代较久的资料都绝版了，几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要，可向博主求助其电子版PDF文件（由陆家和，陈长彦等编著 1987 北京：电子工业出版社 出版的版本） 。对合法合规的求助，我会当即受理并将下载地址发送给你。
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