《1983年全国第二次高纯金属和半导体材料分析会议论文集》
作者 | 中国有色金属工业总公司,沈阳冶炼厂整理 编者 |
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出版 | 光谱实验室编辑部 |
参考页数 | 255 |
出版时间 | 1985(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 无 — 求助条款 |
PDF编号 | 83073078(仅供预览,未存储实际文件) |
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超痕量分析中分析结果准确度的讨论汪厚基9
痕量分析的分离富集和沾污控制蔡绍勤19
石墨炉原子吸收光谱法中的石墨管改进技术高英奇、倪哲明28
我国高纯金属分析的进展吴锦瑛38
空白及环境污染对痕量分析的影响杨南生、李香荣、王崇兰43
第三届国际二次离子质谱(SINS)会议评介王乃粒48
用带电粒子活化分析法建立红外吸收法测定硅单晶和多晶硅中氧、碳含量的定标曲线章家鼎、华芝芬、鲍锦荣51
高纯锡分析方法综述王新57
超高纯汞中32个痕量元素测定的研究丁官忠、于汉芹、何玉芝、姜冬梅66
络合剂、盐效应亚沸蒸馏提纯盐酸硝酸及氢溴酸杨南生、郭富敏、罗仲荣、慕春兰77
压力溶样-化学光谱法测定锗中杂质元素潘鸿器86
采用加压离子交换分离ICP-AES方法测定铊盐中杂质孙世铭、李文英91
自动萃取分离化学光谱法测定高纯金中12种金属杂质由云霞、姜秀兰95
三氯氢硅中痕量磷的直接光谱测定周淑君、冯利、曹慧瑜100
超纯锑中杂质的化学光谱测定宋淑华105
载体分馏法在高纯难熔氧化物分析中的应用毕庶卿111
负级光谱的研究和应用116
邓龙水122
钼单晶中痕量金属杂质的化学光谱测定杨国器、刘秀芬122
高纯钨中21个杂质元素的光谱测定张兰、袁月兰、裘维美128
石墨炉原子吸收光谱法测定高纯硅中ppb级的Al、Mn、Fe、Cu、Ni、Cr、Sb蔡绍勘、高英奇135
石墨炉原子吸收分光光度法测定高纯铜中微量砷李报厚141
石墨炉原子吸收法直接测定高纯铜中痕量杂质砷、硒和锡张大永、陈玉兰、林美玲144
固体试样原子吸收光谱法测定高纯锡中痕量锑由云霞、冯根造147
萃取富集电子级碘化铯中痕量镁的原子吸收分光光度法熊佩丽152
高纯三氯氢硅中痕量铜、锰、镍的原子吸收分光光度法测定康世悦、焦凤琴、柳宗超157
S1-在铜-氨基乙酸溶液中的极谱沉淀膜吸附波赵藻藩、吴志强、陈艳玲160
痕量硅的催化极谱测定熊庆华、王蓉娟164
导数脉冲极谱法测定磷酸根167
纯锆与锆合金中痕量铀的方波极谱测定刘翰晟、瞿静远、唐晓明、帅敏172
阳极溶出伏安法测定高纯铝中铁毛新春176
纯有色金属中微量硫的测定仲菊芬、郑琦、张杏元180
石墨-氢气还原法测定纯砷中痕量硫李昌世、叶志成、张淑兰、由云霞184
三氯化磷中微量硫的极谱测定卢明环189
在V(Ⅳ)-H2SO4-HI-Vc体系中极谱法测定超纯镓中锡由云霞、吴锦瑛、王腾芳192
三氯化磷中硒的导数示波极谱测定李玉芳196
阳极溶出法测定高纯砷中痕量铊黄明义、郝振霞200
Ar载气-氧化溶化-气相色谱法测定硅中微量碳何焕南、俞柏华、竺建英、马兰凤206
分光光度法测定金属铟中痕量铝姚凤姬、常文保、慈云祥211
钼蓝光度法测定金属镓中硅何礼英215
纯钼中微量锡的测定-乳化剂OP-苯芴酮光度法杨素卿220
高纯铅、锌、镉和铟中痕量锡的测定肖永球226
胶束增溶分光光度法测定高纯金中痕量锡刘润霞、由云霞、孙爱党230
高纯铜中微量磷的快速光度法测定邹寅阳、周银兰、吴晓玲235
氢还原-双火焰光度气相色谱仪的研制张瑞霞、赵振庾、李风娥、景秋灵237
二次离子质谱的全元素半定量估算陆东元238
痕量硒的测定刘清如、孟传奎238
用红外吸收法测定多晶硅中的氧碳含量高英敏239
氟化氢渗透管的制备和氟化氢标准气的配制张怀溪、邓明韬、舒仕兰239
测定水样中痕量元素的预富集方法俞永庆240
用数理统计法计算与推导沉降法测定固体粉末粒度中值及离散度赵竹筠240
袖珍计算器在光谱分析数据处理中的应用彭润中、袁甫、黄富有、王俊德240
真空浓缩-光谱法在超高纯汞中25个痕量杂质分析中的应用研究丁官忠、姜冬梅、于汉芹、何玉芝241
铟及磷化铟中微量硅的高频等离子体光谱法测定黄文裕、阴雨江242
超纯分析光谱溶液的配制和激发条件探讨陈炽荣243
纯钼中微量杂质的发射光谱分析李忠243
高纯金属铌中杂质元素的化学光谱分析黄斯民244
高纯石英中微量钾的发射光谱测定杨俊英245
纯铂、铑合金中杂质元素的光谱定量分析孙树祥、何振宇、吴光远245
离子交换色谱分离-石墨炉原子吸收光谱法测纯铁中痕量钒于金润、崔贞姬246
高纯氧化钇中微量钠的原子吸收光谱测定邱立峰246
无火焰原子吸收光谱测定高纯氯化亚砜中超痕量铁、铜、锰、钴、镍、铬徐国祥、张杰、田惠萍、章佩英247
纯铂中铅的分离与测定——阳极溶出法岳尚廉247
氧化钐中氯离子的测定王惠248
用氟电极动力学方法测定合金中痕量铝俞薇华、尹杏娟、汪厚基248
纯稀土及镍中微量铁的直接分光光度法测定慈云祥、杨若明248
荧光光度法测定半导体材料及高纯物质中微量硫王玉梅、周佩芳、张爱嫒249
导数光度法在分析化学中的应用孙若诚249
表面活性剂在金属离子-有机显色剂-表面活性剂三元体系中作用机理探讨的新进展谢国珍250
硫脲介质中铜、稀土、铁、镍等离子的交换行为——铜中痕量稀土快速分离和测定陈锦标、族顺英250
超纯碲中微量硅的化学分析吴敬平251
海绵铂中铁的测定——磺基水杨酸比色法严熙、李敏、初英杰251
铬天青S分光光度法测定Ga1-xAlxAs中x值赵鸿襄251
高纯铜中痕量金的快速测定邹寅阳、吴强元、李灵敏 杨灵、王风策、伊若?252
半导体材料GaAs中痕量铜的测定赵庆添252
氢气还原-次甲蓝比色法测定高纯钨粉中微量硫江礼林253
高纯单一稀土氧化物中痕量硅的测定颜学林253
碘量法直接测定三氧化二砷西京碧253
半导体器件焊料中少量氯的测定范丽敏254
1986年《光谱实验室》征订启事255
1985《1983年全国第二次高纯金属和半导体材料分析会议论文集》由于是年代较久的资料都绝版了,几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要,可向博主求助其电子版PDF文件(由中国有色金属工业总公司,沈阳冶炼厂整理 1985 光谱实验室编辑部 出版的版本) 。对合法合规的求助,我会当即受理并将下载地址发送给你。
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