《表5 均值的拟合汇总、方差分析和效应检验》

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《基于田口法对无边框液晶模组L0漏光改善研究》

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从表5可以看出，均值拟合模型对变异解释能力为0.89，能力充分。方差分析显示概率>F为0.003，说明模型有效。从效应检验来看，因子PI膜厚、预固化温度、TFT&CF面摩擦强度对均值显著（α=0.1）。L0漏光平均水平预测公式如式（3）：当PI膜厚、预固化温度、TFT&CF面摩擦强度均取高水平时，L0漏光预测均值为0.96。