《表2 设定温度为（24±0.2）℃时曝光机基台和周围空气温度》

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《高分辨率平板电脑产品中彩膜曝光基台色斑不良的改善》

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将曝光机台温度设定为（24±0.2）℃后再次测量5点温度，结果如表2所示，基台和空气温度差异缩小。在此温度下进行曝光测试，Macro观察基台Mura程度有所减轻，下游模组不良发生率由7.2%降低为5.5%。