《表2 模型 (2) 中截距和斜率中位数及0.9分位数同时发生漂移时MEWMA控制图的OC ARL》
表1中,其MEWMA控制图的IC ARL为199.8,则将第I类型错误概率控制在0.5%左右。在此基础上截距和斜率中位数分别发生漂移,即β0(0.5)漂移到β0(0.5)+δ1σ和β1(0.5)漂移到β1(0.5)+δ2σ;其0.9分位数发生同样的漂移。截距或斜率中位数及0.9分位数发生的漂移越大,其OC ARL越小,则其MEWMA控制图探测漂移的速度越快。它们分别发生0.15、0.02小漂移的OC ARL分别是84.5、87.1、40.3和65.8;分别发生0.3、0.05中等漂移的OC ARL分别是24、19.7、9.9和14.7;则其MEWMA控制图可以有效地探测截距或斜率中位数及0.9分位数发生的中小漂移。分别发生0.8、0.15大漂移的OC ARL都在2步以内,则其MEWMA控制图可快速探测到截距或斜率中位数及0.9分位数发生的大漂移。分别发生0.1、0.01小漂移的OC ARL分别是124.8、138.9、67.5和114.4;使用渐近控制限而不是精确控制限,会导致其MEWMA控制图探测漂移的速度推迟。模型(2)中截距和斜率中位数及0.9分位数同时发生漂移时MEWMA控制图的OC ARL如表2所示。
图表编号 | XD0076913000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.28 |
作者 | 张秀玲、訾雪旻 |
绘制单位 | 天津职业技术师范大学理学院、天津职业技术师范大学理学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |