《表2 焦平面以及读出电路性能参数》
测试过程中采用Stanford Research System Model SR560 Low-Noise Preamplifier对输出信号进行差分处理。并且由于电路噪声较低,所以在噪声测试中为了降低测试系统噪声对电路噪声测试的影响,测试过程中将差分后的输出信号放大5倍进行采集计算噪声。在积分电容为2 pF时,差分输出噪声测试达到1.36×10-4V,则计算得到电路的动态范围为85.6 dB。电路测试结果与理论计算值结果接近,达到理论预期。电路具体参数指标如表2所示。
图表编号 | XD0065901800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.07.25 |
作者 | 褚培松、陈洪雷、李辉、丁瑞军 |
绘制单位 | 中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室 |
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