《表3 PLI最新研制的InP GM-APD焦平面阵列参数》
2011年Itzler等[35]对InP GM-APD焦平面阵列研制方面的进展进行了报道。如图7(a)所示,其阵列像元采用背入射平面型结构。GM-APD焦平面阵列主要使用倒接焊的方法,主要结构如图7(b)所示,包括InGaAs(P)/InP GM-APD阵列、时间计数的硅CMOS的ROIC和MLA。使用高性能光学环氧树脂将MLA固定到GM-APD阵列上,固化速度相对较快,并且该过程在消除MLA与APD的位置偏移方面是可靠的。表3为该公司报道的已研制成功的InGaAs(P)/InP GM-APD焦平面阵列的参数对比。
图表编号 | XD003388100 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.11.25 |
作者 | 刘凯宝、杨晓红、何婷婷、王晖 |
绘制单位 | 中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室、中国科学院大学材料科学与光电技术学院、中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室、中国科学院大学材料科学与光电技术学院、中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室、中国科学院大学材料科学与光电技术学院、中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室、中国科学院大学材料科学与光电技术学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |