《表1 读出电路测试性能总结Tab.1 Summary of CNT readout circuit performances》

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《碳纳米管检测应用读出电路的设计》

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再使用泰克逻辑分析仪TDS5104B对读出电路的输出信号进行FFT频谱测试。测试结果如图9所示，信号失真比（SNDR）为45.3 d B，有效位数（ENOB）达到7.23 bit。读出电路的整体测试结果如表1所示。fi和fs分别为输入信号频率和时钟频率。