《表1 MEMS元器件随机数 (寿命服从指数分布)》
按照以上假设,从随机数中选择最小的65个数,其中每5个数据为一组,并按从小到大顺序排列,结果如表1所示。选取每组中最小的数,并以略小于它的数作为该组的截尾时间Ti,且随着试验的进行,产品失效的概率逐渐变大,故假设ni依次递减,试验到Ti时刻还有si个产品未失效,其中si=ni+ni+1+…+nm,假设共试验了91件产品,得数据如表2所示。
图表编号 | XD0057365400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.01 |
作者 | 佐磊、孙洪凯、何怡刚、尹柏强、胡小敏 |
绘制单位 | 合肥工业大学电气与自动化工程学院、合肥工业大学电气与自动化工程学院、合肥工业大学电气与自动化工程学院、武汉大学电气与自动化学院、合肥工业大学电气与自动化工程学院、合肥工业大学电气与自动化工程学院 |
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