《表1 不同周期DBR结构反射率仿真模拟结果》
SiO2在440 nm波长处的折射率n1=1.480 6,TiO2在440 nm波长处的折射率n2=2.570 7。通过计算与模拟,可得SiO2每层的厚度为74.29 nm,而TiO2每层的厚度则为42.79 nm。交替周期与反射率的模拟结果见表1。
图表编号 | XD0057337500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.18 |
作者 | 郝锐、武杰、吴魁、李玉珠、易翰翔、吴懿平 |
绘制单位 | 五邑大学应用物理与材料学院、广东德力光电有限公司、广东德力光电有限公司、广东德力光电有限公司、广东德力光电有限公司、广东德力光电有限公司、华中科技大学连接与电子封装中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |