《表2 CCTO, P2N0, P2N0.25和P2N0.5陶瓷的介电频谱和阻抗谱分析结果》
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《PbO和Nb_2O_5共掺杂对CaCu_3Ti_4O_(12)陶瓷介电性能的影响》
图5为室温下,102~106Hz频率范围内CCTO、P2N0、P2N0.25和P2N0.5陶瓷的介电损耗与频率的关系曲线。可以看出,CCTO陶瓷的介电损耗在室温、1 kHz频率下为0.13,且在频率高于105Hz时迅速升高;P2N0陶瓷的介电损耗最低,可达0.037;P2N0.25和P2N0.5陶瓷的介电损耗在低频下低于CCTO陶瓷,但在频率高于104Hz时高于CCTO陶瓷,其中P2N0.25陶瓷的介电损耗在室温、1 k Hz频率下为0.08,略低于P2N0.5陶瓷。CCTO、P2N0、P2N0.25和P2N0.5陶瓷在室温、1k Hz频率下的相对介电常数与介电损耗值示于表2。
图表编号 | XD0057281200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.08.05 |
作者 | 卢云、王若男、柯建成、王莉 |
绘制单位 | 电子科技大学电子科学与工程学院、电子科技大学电子科学与工程学院、电子科技大学电子科学与工程学院、电子科技大学电子科学与工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |