《表2 缺陷检测统计表：基于机器视觉的荧光磁粉自动检测系统设计》

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《基于机器视觉的荧光磁粉自动检测系统设计》

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依据表2缺陷检测统计数据及相关公式计算可得，本系统缺陷检测平均识别率为98.53%，平均漏检率为1.47%，平均虚检率为2.75%。结果表明，基于机器视觉的磁痕缺陷检测方法效果较好，相比于传统人眼判断，实现更为精准判定缺陷和无缺陷工件。但与漏检率相比，系统虚检率较高，后续研究可通过更换或增加合适的特征量，减小伪缺陷特征等因素影响，以此降低系统的虚检率。