《表2 1号阵列衰减时间常数的测量结果》

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《一种低成本高效率的PET闪烁晶体阵列时间性能检测方法与装置》

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用某供应商生产的晶体阵列进行实验。将晶体阵列耦合于光导后，用本系统进行实验，每次得到测量结果的时间均<5 min。保存所测数据，其值的范围与文献[11]符合较好。同时可见同一批次的阵列不同晶体条之间的衰减时间常数有差异，侧面反应了测量晶体阵列的衰减时间常数的必要性，其中1号晶体阵列的每个晶体的衰减时间常数见表2。