《表2 镀层厚度分析方法对比Tab.2 Comparison of plating thickness analysis methods》

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《便携式XRF在汽车金属镀层检测分析中的应用》

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X射线荧光分析法是一种测量样品产生的X射线荧光强度，然后与标准样品的X射线强度进行对比的比较方法[5]。美国材料试验协会标准ASTM B 568—1998（2014）《X射线光谱法镀层厚度的标准测定方法》和国际标准ISO 3497:2000金属镀层-测量镀层厚度-X射线光谱法都明确说明了XRF镀层厚度要求的两种分析方法:经验系数法（Empirical Calibration）和基本参数法（Fundamental Parameters）。经验系数法需要提前制备标样，标样的成分能够充分反映真实样品的成分，成分越接近检测结果越准确。基本参数法则不需要标准样品，它是一种计算机分析软件模拟算法，软件事先已对标准合金或纯金属样品进行校准与校正，相关参数已经存入设备当中，使用时无需新指标试样，可以直接进行对比分析，使检测更加方便，极大地节省了时间。两种分析方法的对比如表2所示。