《表4 数控转台性能退化数据Ⅱ (部分)》

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《基于Wiener过程的数控转台极小子样可靠性分析》

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为了使上一段的论述更具说服力，增加一组试验数据（见表4），并得到其可靠度函数曲线（见图4）和失效概率密度函数曲线（见图5）。图4和5所示的结果同样表明:基于Wiener过程的数控转台可靠性估计结果要高于基于伪寿命分布法的可靠性估计结果，与上一段的结论一致。可见，对于数控转台的可靠性分析而言，基于Wiener过程的分析结果比基于伪寿命分布法的分析结果更加符合实际情况。