《表1 数控转台性能退化数据Ⅰ (部分)》
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《基于Wiener过程的数控转台极小子样可靠性分析》
采用某型号数控转台进行可靠性试验，在不同转台角度θ下得到的转台回转定位精度误差退化量见表1。回转定位精度误差退化量的退化趋势见图1。
| 图表编号 | XD0039168000 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.02.01 |
| 作者 | 张云、姜楠、王立平 |
| 绘制单位 | 清华大学机械工程系精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室、清华大学机械工程系精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室、清华大学机械工程系精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室 |
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