《表6 本方法与湿法分析的测定值总量与二氧化硅的含量对比Tab.6 Comparison of contents of total amounts and SiO2found by the metho
提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名：随高清版一同展现
《熔融制样-X射线荧光光谱法测定工业硅中总硅、二氧化硅和其他杂质组分》
%
按试验方法对上述5个工业硅样品进行分析，硅用总硅量计，各元素的测定值相加得测定值总量，本方法与湿法分析的测定值总量对比见表6。
| 图表编号 | XD0037372900 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.02.18 |
| 作者 | 徐建平、张兆雄 |
| 绘制单位 | 武汉科技大学省部共建耐火材料与冶金国家重点实验室、武汉钢铁有限公司质检中心 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
