《表3 线性范围、线性回归方程、相关系数和检出限Tab.3 Linearity ranges, linear regression equations, correlation coefficient

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《熔融制样-X射线荧光光谱法测定工业硅中总硅、二氧化硅和其他杂质组分》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

由于缺少二氧化硅含量较高的工业硅标准样品，试验称取基准二氧化硅、三氧化二铝、三氧化二铁、碳酸钙、二氧化钛和氧化镁标准样品（GSB03-3130-2014），按1.3.5节制备了5个校准样片，校准样品的理论计算质量相同，实测质量相近，平均值为6.791 1g，各组分含量见表2。校准样片的平均质量减去空白玻璃片的质量为0.430 1g，与表2中按0.200 0g称样量计算出的氧化物质量0.427 9g的差为0.002 2g，表明硅、铝、铁、钙、镁和钛在玻璃片中价态稳定。以各元素的质量分数为横坐标，对应的XRF强度为纵坐标绘制校准曲线，各元素的线性范围、线性回归方程和相关系数见表3。