《表5 串行测试组合方案:基于片上Loopback的FPGA DDR模块串行测试方法》
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《基于片上Loopback的FPGA DDR模块串行测试方法》
由于Loopback串行测试电路交叉使用了IDDR与ODDR两种模块,因此每个测试电路都需要进行3次配置,以覆盖IDDR与ODDR的不同工作模式,具体组合方式按表5进行。
图表编号 | XD0035649900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.01.20 |
作者 | 王贺、张大宇、汪悦、张松 |
绘制单位 | 中国空间技术研究院、中国空间技术研究院、中国空间技术研究院、中国空间技术研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |