《表1 CoSb3-xTex样品的室温载流子浓度n、载流子迁移率μH、密度ρ, 晶格常数》

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《微波快速合成碲掺杂方钴矿及其性能研究》

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图1（b）为CoSb3-xTex（x=0、0.4、0.5）化合物XRD图谱局部放大图（30°～32.5°），可见随着Te掺杂样品的衍射峰均向小角度偏移，这是由于Te原子半径大于Sb原子半径（Te原子半径97pm，Sb原子半径76pm），随着Te的掺杂晶格发生膨胀，掺杂量越高晶格膨胀越明显。表1其晶格常数由jade5.0软件计算得出，随着Te掺杂量的增加晶格常数逐渐增大，这与XRD图谱峰位变化相符合。