《表2 不同试样的载流子迁移率以及陷阱特性Tab.2 Carrier mobility and trap characteristics of different samples》
根据ZnO含量为12.5%的复合试样的表面电位衰减,计算在不同实验条件下的载流子迁移率和陷阱特性,结果见表2。在电压相同时,温度升高后,载流子迁移率提高,陷阱深度、密度也会增加。说明高温可以促进较深陷阱中的电荷获得足够能量得以脱陷,从而加速了表面电荷的衰减。
图表编号 | XD0015974500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.11.25 |
作者 | 冉昭玉、杜伯学、李进、梁虎成、张程 |
绘制单位 | 智能电网教育部重点实验室天津大学电气自动化与信息工程学院、智能电网教育部重点实验室天津大学电气自动化与信息工程学院、智能电网教育部重点实验室天津大学电气自动化与信息工程学院、智能电网教育部重点实验室天津大学电气自动化与信息工程学院、智能电网教育部重点实验室天津大学电气自动化与信息工程学院 |
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