《表2 边缘和内部适合性测试结果 (±s, μm)》

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《三种粘接剂对IPS e.max CAD全瓷冠微渗漏和适合性的影响》

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4组粘接剂粘固全瓷冠的边缘和内部适合性见表2。经方差分析，Duo-Link组的边缘适合性差于其他3组，差异有统计学意义（P<0.05），而其他3组的边缘适合性差异无统计学意义（P>0.05）；在内部适合性方面，4组在肩台、轴面的适合性上无统计学意义（P>0.05）；Kerr NX3的牙合面适合性优于其他3组（P<0.05），其他3组之间比较无统计学意义（P>0.05），4组数值均较大。