《表1 不同粘接剂边缘微渗漏的测量值 (±s, μm)》
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《三种粘接剂对IPS e.max CAD全瓷冠微渗漏和适合性的影响》
扫描电镜下观察4组牙-粘接剂界面的缝隙宽度(图2)。4组粘接剂粘固全瓷冠的缝隙宽度微渗漏值见表1。经方差分析,Duo-Link组界面缝隙宽度大于Duo-Link+酸蚀组、Variolink N组和Kerr NX3组(P<0.05),差异有统计学意义;Kerr NX3组界面缝隙宽度小于Duo-Link+酸蚀组和组间(P<0.05),差异有统计学意义;Duo-Link+酸蚀组和Variolink N组间(P>0.05),差异无统计学意义。
图表编号 | XD002857300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.06.28 |
作者 | 王天、李桂红 |
绘制单位 | 天津市口腔医院·南开大学口腔医院牙体牙髓病一科、天津市口腔医院·南开大学口腔医院牙体牙髓病一科 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |