《表3 CNLS模拟交流阻抗图谱得出的Re, Cdl, Rct和Zw Tab.3 The calculated values of Re, Cdl, Rct and Zwthrough CNLS fi

《表3 CNLS模拟交流阻抗图谱得出的Re, Cdl, Rct和Zw Tab.3 The calculated values of Re, Cdl, Rct and Zwthrough CNLS fi   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《氮掺杂多孔碳的制备及其电化学性能研究》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

图9为NPC-x在测试频率范围为10 mHz~100kHz的交流阻抗曲线,下方为对应的等效电路图.所有曲线均在高频区表现出半圆形,紧接着在中频区有一个45°斜线即Warburg阻抗(表示离子从电解质到电极表面由扩散和转移引起的阻抗,Zw),在低频区则显示出良好的线性.根据等效电路,通过复数非线性最小二乘法(CNLS)[18]拟合分析测得的电化学阻抗谱,拟合结果如表3所示.在非常高的频率下,曲线实部的截距(Z')表示活性材料与集电器界面处的电阻(Re).由于这些电极位于相同的电解液,所有样品的Re值接近于2.8Ω.高频区的半圆对应于由法拉第反应引起的电荷转移电阻(Rct)和材料表面上的双层电容(Cdl)[19],Rct值越小意味着材料的内阻越低.NPC-5的Rct约为0.47Ω,远低于NPC-0的1.39Ω,且所有样品中NPC-5的Cdl值最大;意味着氮掺杂有利于降低碳材料的内阻值,并提升材料的电容特性.