《表3 由交流阻抗图谱拟合有关等效电路图中数据的结果》

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《挤压对Mg-10Li-5Al-0.02Zr合金腐蚀行为的影响》

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图7所示为Mg-Li-Al-Zr合金在3.5%NaCl溶液中开路电位（OCP）下的交流阻抗图谱（EIS）。热挤压前后样品的交流阻抗Nyqiust图均由两个大小不等的容抗弧组成，且其Bode中也包括两个相对应的容抗弧峰。在高频区中，较大容抗弧与双电层的电极/电解质界面有关，而低频区中较小的容抗弧与电极表面的腐蚀膜有关。由图7（a）可知，挤压态样品的两个容抗弧半径均明显大于铸态样品的。热挤压前后样品的等效电路图和相应的拟合结果如图7和表3所示。为了便于比较，Mg-8Li-3Al-1Ce-1Y-1Zn合金在3.5%NaCl溶液中的交流阻抗拟合结果也列于表3中。在图7中，Rs表示溶液电阻，Rt表示电荷转移电阻，Rf表示膜电阻。在高频区中，平行于电荷转移电阻（Rf）的较大容抗弧与电极/电解液界面的双电层有关，低频区较小的容抗弧则与工作电极表面的Mg（OH）2膜有关[20-21]。CPEdl表示双电层的常相位角元件，而CPEf表示Mg（OH）2的常相位角元件[22-23]。而常相位角元件（CPE）一般表示非理想的电容和补偿系统的非均匀性[24-25]，其出现与电极表面的微观粗糙度有关[26]。CPE可以根据Y和n两个参数并由式（4）[27]计算得出，式中的ωm表示容抗虚部达最大值是所对应的角频率。