《表1 Na0.525Bi0.475Ti O2.975试样的交流阻抗等效电路拟合结果》

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《氧离子导体Na_(0.525)Bi_(0.475)ZrO_(2.975)的制备与性能》

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图1给出了Na0.525Bi0.475Zr O2.975试样在648 K温度下的交流阻抗谱，可以看出，在测量频率范围内，Na0.525Bi0.475Zr O2.975试样的阻抗谱中有两段不同的圆弧组成，利用两个R//CPE（CPE为常相位角元件）串联组成的等效电路（见图2）进行拟合，拟合曲线几乎穿过了每一个测试数据点，拟合结果见表1，拟合电容C1和C2的数值依次为1.30×10-10F和2.13×10-7F，从拟合电容的数量级可以判断出，从高频到低频的两段弧分别对应的是氧离子扩散在晶粒和晶界处的响应[10]。根据电导率的计算公式σ=L/RS（L和S分别表示的是样品的厚度和电极的面积），Na0.525Bi0.475Zr O2.975在648 K温度时，其晶粒电导率约为1.3×10-7S/cm，比母体Na0.5Bi0.5Zr O3材料在同温度下的电导率高接近一个数量级（2.9×10-7S/cm，648 K）[11]。但是远低于与结构类似的Na0.525Bi0.475Ti O2.975材料在同温度下的氧离子电导率（1.12×10-3S/cm）[12]。