《表2 Si NTs掺杂前后TDOS贡献分布表》
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《硼、铝和镓掺杂对硅纳米管电子结构和光电性质的影响》
从表2可知,在导带底,Si3p、Si3s对本征Si NTs及其掺杂体系的总态密度均参与了贡献,并且掺杂体系的总态密度还取决于掺杂原子的s态电子和p态电子。通过对图6的对比发现,在贡献程度上B、Al的s态电子比p态电子贡献更大,而Ga的p态电子贡献略多于s态电子。在价带顶,Si3p均参与了本征及其掺杂体系总态密度的贡献,此外,掺杂元素的p态电子对各自体系总态密度也有贡献。在价带底,Si3p、Si3s均参与了对本征Si NTs及其掺杂体系的总态密度贡献,掺杂体系总态密度还取决于其掺杂元素的s态电子,唯一不同的是Si NT?B还由少量的B2p构成。从图6还可以明显看到,Si NT?Ga的总态密度在-15.5~13.5 e V出现了杂质态,其完全由Ga3d态电子贡献。
图表编号 | XD00226623600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.11.10 |
作者 | 秦成龙、罗祥燕、谢泉 |
绘制单位 | 贵州大学大数据与信息工程学院新型光电子材料与技术研究所、贵州大学大数据与信息工程学院新型光电子材料与技术研究所、贵州大学大数据与信息工程学院新型光电子材料与技术研究所 |
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