《表2 低亮度裂纹图像检测结果》
在实验结果中,本文算法比文献[6]、文献[8]和文献[11]算法耗时更长,但相比于文献[12]的运行时间缩短近1/3,且本文算法在提取正确率上均优于其他几种算法。文献[6]、文献[11]和文献[12]的方法受噪声和反光区域影响较大,准确率均低于50%,并不适用于荧光磁粉图像中的裂纹提取。文献[8]对于噪声干扰和反光遮挡的情况具有良好的鲁棒性,但提取的裂纹目标不完整,算法的召回率低。相对而言,本文算法对噪声和反光区域具有较好的抗干扰能力,对于常规情况、裂纹亮度低、反光区域遮挡和噪声干扰4种情况下的裂纹图像,本文算法的正确率、召回率和F值明显高于其他几种裂纹检测算法,获得的裂纹目标更为完整准确。
图表编号 | XD00222261400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.09.18 |
作者 | 邓鑫、刘桂华 |
绘制单位 | 西南科技大学信息工程学院、西南科技大学信息工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |