《表1 不同条件下的微区XRF面扫结果》

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《微区XRF技术分析无机元素在植物中的原位分布》

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表中数据为该元素占样品中能谱检测范围内可测元素总量（Na11-U92）的半定量百分比。

微区XRF的优势是由于X射线的穿透力强，多数情况下可在非真空状态下进行检测。为了比较样品台腔体抽真空和不抽真空是否存在明显差异，针对同一段植物根部横截面样品区域进行面扫。由于微区XRF不适合检测原子序数太低的元素，对本实验室设备而言，可检测元素范围为原子序数在Mg及以后的元素，因此将我们可检测的元素总量定义为归一化的100%，而非样品里所有元素总含量（不含碳、氢、氧和氮等元素）。结果（表1）表明，无论抽真空与否，主要元素的分布趋势不存在显著差异，但部分元素（如硅、磷、硫、砷、铬和铅）之间存在较大差异。以上差异较大的元素主要分布于轻原子序数区和重原子序数区。轻原子序数区的元素（如硅、磷和硫）由于其光电子动能较小，在非真空的情况下传导至检测器的损失较大，因此其信号响应值较低，从而导致误差相对较大；重原子序数区的元素在仪器50 ke V的X射线强度下，不足以激发其K层谱线，因此分析的是其L层谱线，而L层谱线或同样存在能量损失，或在非真空状态下与其它元素的K层谱线无法很好地分离，因此造成检测误差。考虑到上述差异，在抽真空状态下，实验数据的响应值较高且平行性较好，尤其对于分析轻、重元素的准确度较高，因此建议在条件允许时采取抽真空方式进行检测。