《表1 国内XRF专著中的原位微区分析章节》

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《X射线荧光光谱原位微区分析的地学应用评介》

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原位微区XRF分析的专著虽不多，但都很经典。《质子X荧光分析和质子显微镜》一书于1981年出版，几乎与国内XRF综合性专著同年甚至更早出版[2]。但实际上国内现代化质子探针装置的建立和广泛应用大约是20世纪90年代后，李晓林等评述了扫描质子探针（SNM）的研究现状与发展[3]。黄宇营与魏向军执笔的“同步辐射X射线荧光分析”是麦振洪等著《同步辐射光源及其应用》中的一章，是国内最全面介绍同步辐射X射线荧光光谱（SR-XRF）及其应用的著作，包括原理、微束X射线荧光光谱分析、全反射X射线荧光光谱（TXRF）分析和相关三维分析4部分，引文101篇[4]。2009年出版的《毛细管X射线光学器件的性能和应用》一书介绍了毛细管X射线光学器件的设计原理、种类、性能和应用，提供了该类器件详细的性能表征方法，分别讨论了该类器件在微束X射线荧光分析技术和微束X射线衍射分析技术中的应用、在X射线吸收精细结构分析技术和X射线成像技术中的应用、在共聚焦X射线荧光分析技术和共聚焦X射线衍射分析技术中的应用、在会聚同步辐射X射线中的应用、在大气颗粒物单颗粒X射线荧光分析中的应用，展望了毛细管X射线光学器件在安保防恐设备和医疗设备中的应用前景。这是我国XRF领域最具创新工作的研究团队数十年研究工作的总结性专著[5]。此外，国内出版的XRF专著中也有相关内容（表1）。表1中的PIXE是质子诱导的X射线发射的缩写，也有称质子激发的X射线荧光（质子激发-XRF）。如质子束经聚焦，则称μ-PIXE，或称为SPM，或SNM。