《表2 均匀光照下校正前后对比结果》
提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《基于暗电流CMOS图像传感器固定模式噪声校正研究》
分别采集两个积分时间CMOS图像,为了排除RGB三基色光电转化效率的影响,对输出图像的三基色RGB分别求取方差,校正前后对比结果如表2所示。实验结果表明:(1)本底图像输出与积分时间具有较好的线性关系;(2)对于本底图像FPN进行校正,具有很好的校正效果,图像方差降低1~2个数量级;(3)对均匀光照条件下CMOS图像进行校正,发现校正后图像方差增大2个数量。经过分析,在暗电流固定模式噪声校正方法中,以CMOS各像元之间暗电流Ileak相等为前提条件,校正系数Eij=f G(ij)。但实际应用过程中,像元间暗电流Ileak存在非一致性,实际校正系数Eij为暗电流Ileak与放大器增益G的函数,即所以对本底图像校正具有较好效果。但是对于均匀光照CMOS图像,消除偏置FPN图像IFPN为光电流Ipd及放大器增益G的函数,即校正后图像对于均匀光照条件下进行的暗电流FPN校正,由于每一像元间的光电响应度不一致性所引入的FPN噪声影响显著,导致最终校正前后的图像灰度方差反而增大2个数量级。暗电流方法适用于暗场FPN校正。
图表编号 | XD00214247700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 李强、金龙旭、李国宁 |
绘制单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |