《表1 各部分的漏热量:采用均相模型预测低温液氙无损存储过程的压力变化》

《表1 各部分的漏热量:采用均相模型预测低温液氙无损存储过程的压力变化》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《采用均相模型预测低温液氙无损存储过程的压力变化》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

当环境温度为300 K,液氙存储温度T0=165 K,压力p0=0.1 MPa时,计算得出漏热量为q0=70.9 W,各部分的漏热量如表1所列。