《表1 剪切强度结果：基于STM32的液面探测与精确加样控制系统设计》

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《基于STM32的液面探测与精确加样控制系统设计》

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在对该控制系统加样性能的验证上，以去离子水为测试样品，编写测试程序，使加样针处于装载去离子水的样本管上方，垂直臂下降加样针开始寻找液面，当感应到液面开始液面随吸，即加样针与液面同步下降，以最大限度降低交叉污染，取样完成后移到另一样本管，使用电子天平测量样本管的质量。实验中分别对5，10，15，20μL的去离子水进行测试，每组重复20次，计算各样品量下的平均值和标准差，得到仪器的加样品误差和加样重复性如表1。