《表2 涂层A4表面C、O、Si、S原子数分数》

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图6a为涂层A4的表面全谱XPS分析,在结合能531.8、285、162.2、101.6 eV处出现的峰分别为O1s、C 1s、S 2p、Si 2p。图6b为高分辨率C 1s分峰XPS图,根据涂层组成,可将C 1s分成O==C—O(287.7 eV)、C—S(286.7 eV)、C—O(285.1 eV)、C—C(283.9 eV)、C—Si(283.4 eV)五个高斯拟合峰[19]。C—O峰所在区域面积较大,表明表面聚醚链段含量较高,可赋予表面较高的亲水性。C—S峰所在区域面积最小,这与S原子数分数最低相符。图6c为高分辨率Si 2p分峰XPS图,根据POSS的分子式,可将Si 2p分成Si—O(101.6 eV)、Si—C(100.9 eV)两个高斯拟合峰[20]。Si—O峰所在区域面积大于Si—C,进一步说明POSS-SH6-PEGMA2在涂层中定向分布,POSS无机组分指向表面,而聚醚链段指向涂层内部。