《表1 非极大值抑制结果:表面涂层对毫米波频段反射面天线电性能的影响》
测试过程中,分别将理想金属板、铝层待测试片、铝层及二氧化硅层混合待测试片置于图6中测试基板位置,测试片涂覆的铝层厚度为1.8μm,二氧化硅层的厚度为0.5μm。每个试片测试时分别观测一次冷源和热源,观测时间大于1 min,采集数据超过60个。测试结果见表1,与电磁仿真软件计算的反射率结论一致。
图表编号 | XD00183759400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.08.20 |
作者 | 朱振华、苏若斌、李秀伟、李向芹、江彬、高西奇 |
绘制单位 | 东南大学移动通信国家重点实验室、上海卫星工程研究所、上海卫星工程研究所、上海航天技术研究院、上海航天电子技术研究所、东南大学移动通信国家重点实验室、东南大学移动通信国家重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |