《表1 芯片电容器镀层可靠性评价方法Tab.1 Reliability evaluation methods for electrode coating of chip capacitors》
根据芯片电容器固有的结构特点和应用需求,设计了一套芯片电容器电极镀层可靠性的评价方法,试验项目如表1所示。
图表编号 | XD0016815800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.02.05 |
作者 | 韩宝妮、文平、董作典、唐旭、宋燕 |
绘制单位 | 西安空间无线电技术研究所、西安空间无线电技术研究所、西安空间无线电技术研究所、西安空间无线电技术研究所、西安空间无线电技术研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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