《表3 试验结果比较分析：软错误缓解动态部分可重构的抗单粒子方案》

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《软错误缓解动态部分可重构的抗单粒子方案》

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试验采用背面辐照方式。背面辐照时，扫描激光初始能量设定为8 740 pJ（对应LET值为（52.3±13.1)MeV·cm2·mg-1）。扫描测试完芯片后，将激光能量设定为17 430 pJ（对应LET值为（104.3±26.1)MeV·cm2·mg-1），确定器件的单粒子锁定效应敏感区域。试验结果如表3所示。